Phenom Perception GSR
총기 잔여물 분석(GSR)은 총기가 범죄에 사용된 시기를 판단하는 데 중요한 역할을 합니다.
샘플을 스캔하고 의심되는 GSR 입자를 찾는 데 사용되는 주사 전자 현미경(SEM)입니다.
의심되는 입자가 발견되면 에너지 분산 분광법(EDS)을 사용하여 해당 입자의 화학적 조성을 식별합니다.
가장 일반적인 검색 기준은 Pb, Sb 및 Ba의 존재입니다. 그러나 Ti 및 Zn과 같은 뮤연 프라이머리 원소의 검출도 요구 사항입니다. Phenom Perception GSR Desktop SEM은 자동화된 GSR 분석을 실행할 수 있는 세계 최초의 전용 데스크탑 SEM입니다. Thermo Scientific Phenom XL G2 Desktop SEM을 기반으로 합니다. 소프트웨어와 하드웨어가 완전히 통합되어 사용자 친화성, 신뢰성 및 분석 속도를 향상시킵니다.
본문
Key Features
-
Superb Image Quality
Phenom SEM에 적용된 CeB 6 소스는 기존 텅스텐 SEM 소스보다 훨씬 더 밝고 오래 더 강한 빔을 생성합니다. 즉, 간편하게 선명한 이미지를 얻을 수 있습니다.
-
No User Maintenance
Phenom SEM은 사용 후 빔을 대기 상태로 유지 가능합니다. 사용할 때만 빔을 켜두어 전자총의 수명을 효율적으로 사용합니다. 텅스텐 기반 SEM과 달리 소스를 자주 변경할 필요가 없습니다. 한 번의 유지 관리로 몇 년 동안 사용합니다.
-
Ease of Use
Phenom SEM은 전자 이미지와 정확하게 연동된 전동식 스테이지 및 광학 스테이지 카메라로 정밀한 탐색 기능을 제공합니다.
-
Vibration Insensitivity
Phenom SEM은 진동에 둔감한 유일한 SEM입니다. 시끄러운 환경에서 사용할 수 있으며 특수 테이블이나 진동 차단 플랫폼이 필요하지 않습니다.
-
Speed to Image
샘플을 SEM에 로딩하고 30초 만에 라이브 SEM 이미지를 얻습니다. Phenom SEM은 혁신적인 로드락 스테이지 설계 덕분에 가장 빠른 로딩 시간을 가진 SEM입니다.
-
Low-Vacuum Mode
내장된 저진공 모드를 사용하여 추가 샘플 준비 또는 금 코팅 없이 비전도성 샘플을 이미지화합니다. 특별한 디텍터나 추가 비용이 필요하지 않습니다.
-
Easy Upgrade Path
옵션 소프트웨어 패키지 제품군을 사용하면 다양한 애플리케이션을 위한 자동화된 이미지 수집 및 처리가 가능합니다. 모든 Phenom SEM에는 자동 이미지 스티칭이 포함되어 있습니다.
-
Large Sample Holders
Phenom XL 제품은 대형 시료, 다수의 시료를 한 번에 분석하기 위해 대형 홀더를 사용합니다.
Overview
-
Phenom Perception GSR Software
Perception GSR 소프트웨어를 사용하면 개별 실험실에서 표준 작동 절차(SOP)를 기반으로 맞춤형 레시피를 쉽게 생성할 수 있습니다. 표준 빌딩 블록 레시피 인터페이스를 기반으로 하는 데이터 수집은 신뢰할 수 있고 반복 가능한 결과로 입자 위치 및 EDS 분석을 위해 완전히 자동화될 수 있습니다.
- 직관적인 사용자 인터페이스
- ASTM E1588-17 준수
- Plano 인공 GSR 샘플의 적중률 ≤ 98%
- ENFSI Est Practice 지침 2006 준수
- 유연한 사용자 정의 템플릿을 통한 광범위한 보고 기능
- 입자의 수동 재방문 및 검증 지원
Specification
Models & Specification | ||||
---|---|---|---|---|
Items | ![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
Model | Phenom PaticleX AM | Phenom PaticleX TC | Phenom Perception GSR | Phenom ParticleX Battery |
Electron Source |
CeB6 crystal | CeB6 crystal | CeB6 crystal | CeB6 crystal |
Max. Magnification |
x200,000 | x200,000 | x200,000 | x200,000 |
Resolution | 10nm SE 10nm BSE |
10nm SE 10nm BSE |
10nm SE 10nm BSE |
10nm SE 10nm BSE |
Acceleration Voltages |
5~20 kV | 5~20 kV | 5~20 kV | 5~20 kV |
Sample loading time |
Light optical <5s Electon optical <60s |
Light optical <5s Electon optical <60s |
Light optical <5s Electon optical <60s |
Light optical <5s Electon optical <60s |
Navigation Camera |
||||
Motorized Stage |
||||
Vacuum Options |
High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
High and Low vacuum sample holders (software selectable) |
Sample Handling |
Up to 36 pin stubs 100 mm × 100 mm |
Up to 36 pin stubs 100 mm × 100 mm |
Up to 36 pin stubs 100 mm × 100 mm |
Up to 36 pin stubs 100 mm × 100 mm |
Detectors | BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
BSE (Standard) SEM (Optional) EDS (Optional) |
Dimensions (mm) |
286(W)×566(D)×495(H) | 286(W)×566(D)×495(H) | 286(W)×566(D)×495(H) | 286(W)×566(D)×495(H) |
Shipping Weight |
42 kg | 42 kg | 42 kg | 42 kg |
Video
- 이전글Phenom ParticleX TC 25.07.08
- 다음글Phenom ParticleX Battery 25.07.07